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  • 電動車控制器75N75型號參數(shù)與封裝-MOS在電動車控制器中的應(yīng)
    • 發(fā)布時間:2019-08-31 10:56:25
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    電動車控制器參數(shù)型號資料
    75NF75產(chǎn)品描述
    75NF75是N溝道增強型功率場狀態(tài)特性穩(wěn)定、快速的效應(yīng)晶體管開關(guān)速度,低熱阻,常用于電信和計算機應(yīng)用。
    75NF75產(chǎn)品特征
    RDS(ON)=12.5m? @VGS=10V
    超低柵電荷(典型的90納米)
    快速交換能力
    指定雪崩能量
    改進的dv/dt能力,堅固性高
    75NF75參數(shù)范圍
    產(chǎn)品型號:75NF75
    工作方式:80A/80V
    漏源電壓:80V
    柵源電壓:±25V
    連續(xù)漏電流:80A/70A
    脈沖漏電流:340A
    雪崩電流:20A
    雪崩能源:410MJ
    最大功耗:240W/100W
    電動車控制器,75N75
    75NF75封裝圖
    75NF75產(chǎn)品附件詳情
    電動車控制器,75N75
    MOS在控制器電路中的工作狀態(tài)
    開通過程、導(dǎo)通狀態(tài)、關(guān)斷過程、截止狀態(tài)、擊穿狀態(tài)。  
    MOS主要損耗包括開關(guān)損耗(開通過程和關(guān)斷過程),導(dǎo)通損耗,截止損耗(漏電流引起的,這個忽略不計),還有雪崩能量損耗。電動車控制器場效應(yīng)管只要把這些損耗控制在MOS承受規(guī)格之內(nèi),MOS即會正常工作,超出承受范圍,即發(fā)生損壞。
    而開關(guān)損耗往往大于導(dǎo)通狀態(tài)損耗,尤其是PWM沒完全打開,處于脈寬調(diào)制狀態(tài)時(對應(yīng)電動車的起步加速狀態(tài)),而最高急速狀態(tài)往往是導(dǎo)通損耗為主。
    MOS管在電動車控制器中的作用
    電動車控制器場效應(yīng)管簡單來說電機是靠MOS的輸出電流來驅(qū)動的,輸出電流越大(為了防止過流燒壞MOS管,控制器有限流保護),電機扭矩就強,加速就有力。
    MOS在電動車控制器中的應(yīng)用
    我們電動車控制器場效應(yīng)管和平常cmos集成電路中的小功率mos結(jié)構(gòu)是不一樣的。小功率mos是平面型結(jié)構(gòu)。而電動車上上用的功率mos是立體結(jié)構(gòu)。平面型結(jié)構(gòu)是指,mos柵極,源級和漏級都在芯片表面(或者說正面),而溝道也在芯片表面橫向排列。(我們常見的教科書的介紹mos原理一般都是拿平面結(jié)構(gòu)介紹)。而功率mos的立體結(jié)構(gòu)(溝道是深槽立體結(jié)構(gòu))是柵極和源級引線從芯片正面引出(其實柵極也不在表面而是內(nèi)部,只是比較靠近表面),而漏級是從芯片背面引出(其實整個芯片背面都是漏級連接在一起的,整個個漏級用焊接材料直接焊接在金屬板上,就是mos的金屬背板,一般是銅鍍錫的),所以我們見到的mos一般金屬板和中間引腳(就是漏級)是完全導(dǎo)通的(有些特殊的封裝是可以做到金屬板和中間腳絕緣的)。
    功率mos內(nèi)部從漏級到源級是有一個二極管的,這個二極管基本上所有的功率mos都具有,和它本身結(jié)構(gòu)有關(guān)系(不需要單獨制造,設(shè)計本身就有)。當然可以通過改變設(shè)計制造工藝,不造出這個二極管。但是這會影響芯片功率密度,要做到同樣耐壓和內(nèi)阻,需要更大的芯片面積(因為結(jié)構(gòu)不同)。大家只是知道這回事就行了。
    我們所見的電動車控制器場效應(yīng)管,其實內(nèi)部由成千上萬個小mos管并聯(lián)而成(實際數(shù)量一般是上千萬個,和芯片面積和工藝有關(guān))。如果在工作中,有一個或幾個小管短路,則整個mos表現(xiàn)為短路,當然大電流短路mos可能直接燒斷了(有時表現(xiàn)為金屬板和黑色塑封間開裂),又表現(xiàn)為開路。大家可能會想這上千萬個小mos應(yīng)該很容易出現(xiàn)一個或幾個壞的吧,其實真沒那么容易,目前的制造工藝基本保證了這些小單位各種參數(shù)高度一致性。
    它們的各種開關(guān)動作幾乎完全一致,當然最終燒壞時,肯定有先承受不了的小管先壞。所以管子的穩(wěn)定性和制造工藝密不可分,差的工藝可能導(dǎo)致這些小管的參數(shù)不那么一致。有時一點小的工藝缺陷(比如一個1um甚至更小的顆粒如果在關(guān)鍵位置)往往會造成整個芯片(缺陷所在的管芯)報廢。
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